科研动态

高电流密度PEM电解水制氢气泡移除机制及系统响应时间研究新进展

发布时间: 2023-09-28

  近日,中国科学院过程工程研究所低碳工业过程与智能计算课题组(LCP-IC)在高电流密度质子交换膜(PEM)电解水的多相流特性方面取得了新的研究进展。该成果以Proton exchange membrane water electrolysis at high current densities: Response time and gas-water distribution为题,在线发表于国际期刊《AICHE Journal》。中国科学院过程工程研究所为通讯单位,杨宁老师、管小平老师为通讯作者,博士研究生白谨豪、李子丰分别为文章的第一、第二作者,博后张璟昌老师为第三作者。该项目得到了中国科学院“洁净能源关键技术与示范”战略先导研究计划(XDA21000000)以及国家自然科学基金(21925805、22178354)的支持。

原文链接:https://doi.org/10.1002/aic.18223 

  

研究背景
  电解水制氢是实现可再生能源储能、双碳目标的一项重要技术。相比于碱性电解(ALK)、固体氧化物电解(SOEC)、阴离子交换膜水电解(AEM)等技术,PEM电解水具有宽负荷适应性、响应速度快,可在高压和大电流密度下运行等优点,因此对可再生能源波动性具有较强的适应性。但因为纯水电解过程中的强酸性条件,质子交换膜电解槽多由贵金属材质组成,成本较高,且目前商业化程度不够。为降低成本,高电流密度操作被认为是一种有效的方法,但这导致氧气气泡大量生成,堵塞多孔介质层(PTL),阻碍反应物水到达催化剂表面,同时覆盖催化剂活性位点,阻碍热量传递,从而降低电解效率。
  图1. PEM电解槽阳极侧示意图
 
  基于以上科学问题,LCP-IC课题组开发了一个耦合电化学、两相流动力学以及离子传输的多物理模型来研究高电流密度下PEM电解槽内的多相流及响应时间特性,并从多相流动的角度分析和解释高电流密度下性能恶化的原因,为电解槽设计和优化指明方向。

高电流密度气泡移除机制转变
  研究结果表明,当系统的气含率较低时,减小PTL接触角,可有效移除气体,气含率降幅最高达15%。然而,当体系气含率较高,改变接触角,气体的移除特性基本保持不变。这表明在高气含率下(对应高电流密度),气体移除机制发生了变化。机理研究显示,在高电流密度下,靠近通道出口的地方气含率形成了一个逆梯度分布的抛物线形状,这意味着流道内的气含率高于PTL,阻碍了氧气的移除,导致气含率高度不均匀分布,并恶化电解性能。这是首次报道关于高电流密度下性能下降机制的研究。研究结果提示,调节流道内的流场(如加入挡板、涡流发生器等),特别是靠近流道出口的区域,是提高高电流密度电解性能的重要方面之一。
  图2. PTL气含率在不同电流密度和接触角下随水流方向高度(Y轴高度)的变化
  图3.不同高度和电流密度条件下气含率沿垂直水流方向(X方向)分布

 

系统响应时间随电流密度非单调变化
  由于可再生能源本身的间歇性特点,电解槽的快速响应是系统的优化目标。针对响应时间的研究结果表明,系统响应时间随电流密度增大先减小后增大,呈现非单调变化规律,与多孔层内毛细力梯度负相关。这是因为毛细力梯度是气体扩散移除的主要驱动力,响应时间对毛细力的变化非常敏感。不同操作参数研究结果表明,不论是高电流密度还是低电流密度下,PTL润湿性对响应时间影响不大,而提高液速能使电解槽达到快速响应,这说明电解槽的动态响应过程由流道内流场结构主导。
  
  图4. 操作参数对响应时间的影响

 

总结
  LCP-IC课题组为PEM电解槽开发了一个多物理场模型,将Euler–Euler多相流与电势方程及电化学反应耦合,研究高电流密度下气泡移除机制及系统响应时间特性。结果表明,流道下游含率的逆梯度抛物线分布使得气泡无法有效脱除,恶化电解性能。除此之外,响应时间随电流密度的增加呈现非单调变化,意味着高电流密度下系统需要更长的响应。这一发现为电解槽流道优化及过程强化指明了方向。